半導(dǎo)體芯片高低溫試驗(yàn)箱密封性不好會(huì)出現(xiàn)什么問(wèn)題：
半導(dǎo)體芯片高低溫試驗(yàn)箱可以模擬高溫、低溫、濕熱交變循環(huán)等可靠性測(cè)試，比如做150℃高溫情況下，試驗(yàn)室內(nèi)外的壓差急劇增大，如果這時(shí)候溫箱的密封性不好的話(huà)會(huì)出現(xiàn)什么問(wèn)題呢？
1、如果密封性不好，就會(huì)產(chǎn)生嚴(yán)重的漏氣，影響箱體內(nèi)的溫濕度。會(huì)導(dǎo)致偏差都、均勻度、波動(dòng)度非常大，半導(dǎo)體芯片高低溫試驗(yàn)箱各個(gè)電纜孔、通氣排氣孔設(shè)計(jì)非常講究，設(shè)備不合理，導(dǎo)致空隙過(guò)大而密封不好。門(mén)密封條的問(wèn)題也是關(guān)鍵。我們往往忽視這個(gè)問(wèn)題，認(rèn)為密封條加上去了，而且在門(mén)的鉸鏈的壓制下應(yīng)該是密封的，可是，由于橡膠密封條的老化、硬軟度選擇不合理、密封條固定方式的不同而常常產(chǎn)生漏氣；
2、主要門(mén)的密封問(wèn)題也是關(guān)鍵，由于恒溫恒濕試驗(yàn)箱通常體積比較大，箱門(mén)尺寸也隨之增大，結(jié)果重量很大，長(zhǎng)時(shí)間的承重后致使垂直方向的鉸鏈產(chǎn)生位移而使開(kāi)門(mén)錯(cuò)位關(guān)閉不嚴(yán)。所以也會(huì)導(dǎo)致漏氣；
3、有的可能是本身設(shè)備設(shè)計(jì)問(wèn)題，有的是維護(hù)這塊導(dǎo)致密封性不好。所以，我們?cè)谠O(shè)備使用中要嚴(yán)格按設(shè)備維修手冊(cè)進(jìn)行經(jīng)常性的維護(hù)，確保設(shè)備正常運(yùn)行、技術(shù)參數(shù)不發(fā)生偏移。
所以半導(dǎo)體芯片高低溫試驗(yàn)箱在使用的時(shí)候這幾個(gè)方面是需要注意的哦，維護(hù)的同時(shí)也關(guān)注一下以上所說(shuō)的，避免試驗(yàn)箱產(chǎn)生漏氣帶來(lái)的影響。 |
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