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公司：東莞市勤卓環(huán)境測試設備有限公司
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| 半導體芯片高低溫老化測試箱 |
| 半導體芯片高低溫老化測試箱主要是通過水箱進行專門的供水，若是水質不符合要求就會直接或間接地影響產品的檢測和設備的使用壽命。使用安全符合要求的潔凈水就可以避免許多因水質問題而造成設備不良的因素，如水箱雜質多、水管堵塞、配件生銹、有異味等。毫無疑問，若是只要求能達到濕度效果，使用普通自來水也可以實現，但是如果長時間使用自來水來進行濕度測試，管道內就很容易產生水垢。 |
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一、半導體芯片高低溫老化測試箱概述： 主要是通過水箱進行專門的供水，若是水質不符合要求就會直接或間接地影響產品的檢測和設備的使用壽命。使用安全符合要求的潔凈水就可以避免許多因水質問題而造成設備不良的因素，如水箱雜質多、水管堵塞、配件生銹、有異味等。毫無疑問，若是只要求能達到濕度效果，使用普通自來水也可以實現，但是如果長時間使用自來水來進行濕度測試，管道內就很容易產生水垢。
               
二、半導體芯片高低溫老化測試箱技術指標： 具體參數 | 型號 | LK -012G | LK -015G | LK -020G | LK -030G | H:0℃~+150℃ C:-20℃~+150℃ L:-40℃~+150℃ U:-60℃~+150℃ J:-70℃~+150℃ | 測試室尺寸LxDxHcm | 100x100x120 | 100x100x150 | 120x120x150 | 150x120x150 | 外形尺寸 LxDxHcm | 125x194x210 | 125x250x203 | 145x225x203 | 175x 225x203 | 溫度范圍 | -40℃~+150℃ | 濕度范圍 | 20%-98%RH | 解析精度 | 溫度: 0.01℃:濕度: 0.1%RH | 溫濕度偏差 | 溫度: ±1.0℃; 濕度: ±2.5%RH | 升溫時間 | +20℃~150℃約30 min | 降溫時間 | +20℃~-20C℃≤30min | +20℃~-40℃≤55min | +20℃~-70C ≤75min | 材質 | 外箱:防銹處理冷軋鋼板烤漆 內箱: SUS≠304或SUS ≠316不銹鋼板 | 絕緣材料 | 硬質聚氨酯泡沫料(帶阻燃劑) | 制冷方式 | 進口泰康壓縮機+鰭片式全銅蒸發(fā)器+風冷式冷凝器 | 制冷劑 | 美國杜邦HFC系列環(huán)保制冷劑: R404A、 R23 | 壓縮機泠量 | 3.0P*2臺 | 3.0P*2臺 | 3.0P*2臺 | 4.0P*2臺 | 控制器 | 進口TEMI系列7"觸摸式溫濕度儀表 | 電器元件 | 法國施耐德工控產品、瑞士佳樂、中國臺灣陽明等電器元件 | 加熱、加濕 | 鎳鉻合金加熱管、SUS316制護套式加濕管 | 循環(huán)風機 | 長軸電機+不銹鋼風輪 | 故障報警 | 壓縮機過流、超壓、過熱、缺水、加熱器無風空焚、加濕器無水干燒、漏電保護、超溫保護、欠相、室內超溫 | 水質 | 純凈水或去離子 | 電源 | 380V AC3Φ4W 50/60Hz | 大電流（A） | AC380V | 23A | 25A | 28A | 30A | 其它配件 | 樣品架2塊，引線孔硅膠塞1個，鋼化除霧玻璃1塊 |
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